由于回路電阻測試儀測試電源非理想電壓源，內(nèi)阻Ri不同測量回路串接電阻Rm不同，動態(tài)測量準(zhǔn)確度不同，以及現(xiàn)場測量操作的不合理或失誤等，不同型號絕回路電阻測試儀對同一被測試品的測量結(jié)果會存在差異。實(shí)際測量時(shí)，應(yīng)結(jié)合回路電阻測試儀絕緣試驗(yàn)條件的特殊性盡量降低可能出現(xiàn)的各種測量誤差：
　　
　　（1）不同型號的絕緣表測量同一試品時(shí)，應(yīng)采用相同的電壓等級和接線方法。
　　
　　（2）不同型號回路電阻測試儀的量程和示值的刻度方法不同，刻度分辨力不同，測量準(zhǔn)確度等級不同，都會引起示值間的差異。為了保證對電力設(shè)備的準(zhǔn)確測量，應(yīng)避免選用準(zhǔn)確度低，使用不方便的搖表。
　　
　　（3）試品大多含容性分量，并存在介質(zhì)極化現(xiàn)象，即使測試條件相同也難以獲得理想的數(shù)據(jù)重復(fù)性。
　　
　　（4）測量時(shí)，絕緣介質(zhì)的溫度和油溫應(yīng)與環(huán)境溫度一致，一般允許相差±5%。
　　
　　（5）應(yīng)在特定時(shí)間段的允許時(shí)間差范圍內(nèi)，盡快地讀取測量值。為使測量誤差不高于±5%，讀取R60S的時(shí)間允許誤差±3S，而讀取R15S的時(shí)間不應(yīng)相差±1S。
　　
　　（6）高壓測試電源非理想電壓源，重負(fù)荷（被測試品絕緣電阻值小）時(shí)，輸出電壓低于其額定值，這將導(dǎo)致單支路直讀測量法絕緣電阻測試儀測量準(zhǔn)確度因轉(zhuǎn)換系數(shù)的改變而降低。這種改變因絕緣電阻測試儀測試電源負(fù)荷特性不同而異。
　　
　　（7）不同動態(tài)測試容量指標(biāo)的絕緣電阻測試儀，試驗(yàn)電壓在試品上（及采樣電阻上）的建立過程與對試品的充電能力均存在差異，測量結(jié)果也會不同，使用低于動態(tài)測試容量指標(biāo)門限值的絕緣電阻測試儀測量時(shí)，由于儀表存在慣性網(wǎng)絡(luò)（包括指針式儀表的機(jī)械慣性）導(dǎo)致示值響應(yīng)速度較慢，來不及正確反映試品實(shí)在絕緣電阻值隨時(shí)間的變化規(guī)律，尤其是在測試的起始階段，電容充電電流未*衰減為零，更會使R15S和吸收比讀測值產(chǎn)生較大誤差（偏小）。
　　
　　（8）試品絕緣介質(zhì)極化狀況與外加試驗(yàn)電壓大小有關(guān)。由于試驗(yàn)電壓不能迅速達(dá)到額定值，或因絕緣電阻測試儀測試電源負(fù)荷特性不同導(dǎo)致施加于試品上試驗(yàn)電壓的差異，使試品初始極化狀況不同，導(dǎo)致吸收電流不同，使緣電阻測量的示值不同。
　　
　　（9）國外某些絕緣電阻測試儀的試驗(yàn)高電壓連續(xù)可調(diào)，開機(jī)后先由零調(diào)節(jié)至額定值。絕緣電阻測試儀讀數(shù)起始時(shí)間的不確定性，以及高壓達(dá)到額定值時(shí)間的不確定性，使試品初始極化不同，也將引起示值間的差別。
　　
　　（10）不同回路電阻測試儀現(xiàn)場干擾的敏感度和抵御能力不同，對同一試品的讀測值會存在差異。
　　
　　（11）數(shù)據(jù)隨機(jī)起伏的常規(guī)測量誤差和絕緣電阻測試儀方法誤差不同等引起示值間的差異。
　　
　　（12）介質(zhì)放電不充分是重復(fù)測量結(jié)果存在差異的重要原因之一。據(jù)試品充電吸收電流與其反向放電電流對應(yīng)和可逆的特點(diǎn)，若需對同一試品進(jìn)行第二次重復(fù)測量，*次測量結(jié)束后的試品短路放電間歇時(shí)間一般應(yīng)長于測量時(shí)間，以放盡所積聚的吸收電荷量，使試品絕緣介質(zhì)充分恢復(fù)到原先無極化狀態(tài)，否則將影響第二次測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確度。為使被試品上無剩余電荷，每一次試驗(yàn)前也應(yīng)該將測量端對地短路放電，有時(shí)甚至需時(shí)近1小時(shí)，并應(yīng)拆除與無關(guān)設(shè)備間的聯(lián)線。總之，同一試品不同時(shí)期的絕緣測量，應(yīng)采用相同的試驗(yàn)電壓等級和接線方法，并盡可能使用同一型號或性能相近的絕緣電阻表，以保證測量數(shù)據(jù)的可比性。